Tip opreme
Oprema za naučnoistraživački rad i nastavu
Godina Proizvodnje
2022
Usluge
Snimanje površine uzoraka sa visokom rezolucijom, Hemijska analiza uzoraka (EDS detekcija)
Radno vrijeme
08:00 - 16:00
Tehničke karakteristike
Model: JEOL JSM IT 200LA
Maksimalna rezolucija: 3 nm pri naponu od 30 KV
Energetska rezolucija EDS detektora: 129 eV
Kontakt
Prof. dr. Maja Đekić, 033 279 891